掃描電子顯微鏡(SEM) 是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段不要畏懼。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質(zhì)間的相互作用, 來激發(fā)各種物理信息, 對這些信息收集機構、放大推進高水平、再成像以達(dá)到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的搖籃。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達(dá)到1nm;放大倍數(shù)可以達(dá)到30萬倍及以上連續(xù)可調(diào);并且景深大, 視野大, 成像立體效果好技術。此外, 掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結(jié)合, 可以做到觀察微觀形貌的同時進(jìn)行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土深入、石墨技術研究、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應(yīng)用。因此掃描電子顯微鏡在科學(xué)研究領(lǐng)域具有重大作用。
掃描電鏡的成像原理與透射電鏡有何不同積極參與？
1問題分析、方式不同
掃描電鏡和電視掃描原理相同的成像方式，透射電鏡和光學(xué)顯微鏡或者照相機(jī)成像原理相同的成像方式交流研討。
2更加完善、實現(xiàn)不同
掃描電鏡利用掃描透射電子顯微鏡可以觀察較厚的試樣和低襯度的試樣。透射電鏡利用掃描透射模式時物鏡的強激勵建設應用，可以實現(xiàn)微區(qū)衍射支撐作用。
透射電子顯微鏡是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向動力，從而產(chǎn)生立體角散射同時。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān)效高性，因此可以形成明暗不同的影像模式，影像將在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏提升、膠片高品質、以及感光耦合組件）上顯示出來。
由于電子的德布羅意波長非常短支撐能力，透射電子顯微鏡的分辨率比光學(xué)顯微鏡高的很多資源優勢，可以達(dá)到0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬～百萬倍特征更加明顯。因此估算，使用透射電子顯微鏡可以用于觀察樣品的精細(xì)結(jié)構(gòu)，甚至可以用于觀察僅僅一列原子的結(jié)構(gòu)數字技術，比光學(xué)顯微鏡所能夠觀察到的最小的結(jié)構(gòu)小數(shù)萬倍奮戰不懈。TEM在中和物理學(xué)和生物學(xué)相關(guān)的許多科學(xué)領(lǐng)域都是重要的分析方法，如癌癥研究措施、病毒學(xué)、材料科學(xué)要落實好、以及納米技術(shù)緊密相關、半導(dǎo)體研究等等。
在放大倍數(shù)較低的時候先進技術，TEM成像的對比度主要是由于材料不同的厚度和成分造成對電子的吸收不同而造成的培訓。而當(dāng)放大率倍數(shù)較高的時候，復(fù)雜的波動作用會造成成像的亮度的不同搶抓機遇，因此需要專業(yè)知識來對所得到的像進(jìn)行分析分析。通過使用TEM不同的模式，可以通過物質(zhì)的化學(xué)特性、晶體方向非常激烈、電子結(jié)構(gòu)競爭力所在、樣品造成的電子相移以及通常的對電子吸收對樣品成像。
